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■ 会期： 2016年10月30日（日）～11月2日（金）

■ 会場： The Dolphin Hotel in Orlando, Florida

〈ポスター発表〉

■ 演題： How should we evaluate sin conditions? Applicability of the capacitance/TEWL ratio as a new parameter

■ 発表者： ㈱ニコダームリサーチ　山下 由貴

■ 共同研究者： ㈱ニコダームリサーチ、DRC㈱、㈱TESホールディングス、東京工科大学応用生物学部

■ 演題： Effects of Temperature Change of Applied Layers of Emulsion Type Sunscreens on Their Structure and UV Protection Abilities

■ 発表者： 慶應義塾大学理工学部　川瀬 咲穂

■ 共同研究者： 慶應義塾大学理工学部、㈱パラエルモサ、DRC㈱、黒田総合技研㈱

■ 演題： Pattern Formation by Viscous Fingering during Sunscreen Application and Its Influence on the UV Protection Efficacies and Their Evaluations

■ 発表者： 慶應義塾大学理工学部　白岩 由梨

■ 共同研究者： 慶應義塾大学理工学部、㈱パラエルモサ、DRC㈱、黒田総合技研㈱