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■会期：2016年10月30日（日）～11月2日（金）

■会場：The Dolphin Hotel in Orlando, Florida

〈ポスター発表〉

■演題：How should we evaluate sin conditions? Applicability of the capacitance/TEWL ratio as a new parameter

■発表者：㈱ニコダームリサーチ　山下 由貴

■共同研究者：㈱ニコダームリサーチ、DRC㈱、㈱TESホールディングス、東京工科大学応用生物学部

■演題：Effects of Temperature Change of Applied Layers of Emulsion Type Sunscreens on Their Structure and UV Protection Abilities

■発表者：慶應義塾大学理工学部　川瀬 咲穂

■共同研究者：慶應義塾大学理工学部、㈱パラエルモサ、DRC㈱、黒田総合技研㈱

■演題：Pattern Formation by Viscous Fingering during Sunscreen Application and Its Influence on the UV Protection Efficacies and Their Evaluations

■発表者：慶應義塾大学理工学部　白岩 由梨

■共同研究者：慶應義塾大学理工学部、㈱パラエルモサ、DRC㈱、黒田総合技研㈱